半球发射率测定仪仪器原理

更新日期：2026-02-10 浏览量：42

　　半球发射率测定仪是一种用于测量材料在半球方向上辐射能力的专业仪器，其核心功能是测定材料在特定温度下相对于黑体的辐射出射度比值，即半球发射率。

　　半球发射率测定仪基于热辐射原理，通过比较材料表面与标准黑体(发射率为1)在相同温度下的辐射能量，计算材料的半球发射率。常见测量方法包括：

　　稳态量热计法：通过测量材料在稳定热平衡状态下的辐射功率，结合标准黑体对比，计算发射率。该方法精度高，但设备复杂，适用于航天材料、工业隔热材料等高精度需求场景。

　　热电堆探测技术：利用热电堆传感器将材料表面辐射的热能转换为电压信号，通过对比标准板与样品的温差直接计算发射率。该方法操作简便、成本低，适用于快速检测需求。

　　光谱积分法：通过积分球系统收集材料在半球空间内的辐射能量，结合光谱分析技术，测量材料在特定波段(如2-30微米)的光谱发射率。该方法适用于材料光谱特性分析。